磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。

A型靈敏度試片

產品詳情(qing)：

A型(xing)靈敏度試片用(yong)于零部件的(de)磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，在檢(jian)查(cha)中(zhong)，對幾何形(xing)狀復雜，不同材質的(de)工件，可以(yi)正(zheng)確(que)地選擇(ze)磁(ci)(ci)化規(gui)范，并(bing)可檢(jian)查(cha)探(tan)(tan)傷(shang)設備，磁(ci)(ci)粉(fen)和(he)磁(ci)(ci)懸液的(de)性(xing)能，在磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)操作過程(cheng)中(zhong)，可以(yi)避免漏檢(jian)，正(zheng)確(que)地知(zhi)道探(tan)(tan)傷(shang)工作所需的(de)電流(liu)峰值和(he)方向，并(bing)對顯示(shi)缺陷(xian)的(de)磁(ci)(ci)場強(qiang)度有所估(gu)量。A型(xing)靈敏試片是磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)工作者(zhe)的(de)調試工具。

特點(dian)如下：

試片用于磁(ci)粉顯示，圖像直(zhi)觀，使用簡(jian)便，對各類(lei)零件(jian)所有方向(xiang)的(de)磁(ci)場，尤其檢查形狀復雜的(de)零件(jian)時，表(biao)現其*的(de)優(you)點。

性能(neng)規格：

本套試片(pian)包括(kuo):7/50、 15/50、 30/50、15/100、 30/100、 60/100各 1 片,共六片。

試(shi)片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規格為（11-12）D;=2（um）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規格為（5-6）D。括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為um(微米)，D為工件直徑。

C型靈(ling)敏度試片(pian) 

產品詳情：

C型靈(ling)敏(min)(min)度(du)試(shi)片最先(xian)由日本無損檢測學會提出，以后(hou)為多個國家使用，主(zhu)要用于零部(bu)件的(de)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，在(zai)(zai)檢查(cha)中，對幾(ji)何形狀復雜，不(bu)同材質的(de)工作，可以正確地選擇(ze)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)規范，并(bing)可檢查(cha)探(tan)(tan)傷(shang)設備，磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)和(he)磁(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液的(de)性(xing)能，在(zai)(zai)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)操(cao)作過程中，可以避免(mian)漏檢，正確地知(zhi)道探(tan)(tan)傷(shang)工作所(suo)需的(de)電流峰值和(he)方向，并(bing)對顯示(shi)缺陷的(de)磁(ci)(ci)(ci)場強度(du)有所(suo)估量(liang)A型靈(ling)敏(min)(min)度(du)試(shi)片是磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)工作者(zhe)常備的(de)調試(shi)工具(ju)。

特點(dian)如(ru)下：

C型標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)片，它分為C1型和C2型，它可以在(zai)任何幾(ji)何形狀復雜(za)的工件(jian)上(shang)(shang)探(tan)傷，尤(you)其(qi)在(zai)焊縫的坡口面上(shang)(shang)及狹小部分，更能顯示它的優點。C型標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)片相(xiang)當于A型試(shi)(shi)(shi)片中2#試(shi)(shi)(shi)片的靈敏度等同(tong)，它的磁化規范相(xiang)當于8-10D，并可用作鑒定探(tan)傷設備、磁粉(fen)和磁懸液的性能，在(zai)磁粉(fen)探(tan)傷過程中，可以避免誤判(pan)或漏檢。C型標(biao)(biao)準(zhun)靈敏度試(shi)(shi)(shi)片,是磁粉(fen)探(tan)傷工作者(zhe)常備的調(diao)試(shi)(shi)(shi)工具。

性能(neng)規(gui)格：

本套試片包括:C1: 8/50u  C2:15/50u  共六片，分兩組不同規格的試片組成。

D型(xing)靈(ling)敏度試(shi)片 

產品詳情(qing)：

D型靈敏度試片(pian)用(yong)于零部件的(de)(de)磁粉探傷，在檢(jian)查中(zhong)，對幾何形狀復雜，不同材(cai)質的(de)(de)工件，可以正確地選擇磁化規范(fan)，并可檢(jian)查探傷設備，磁粉和(he)磁懸液(ye)的(de)(de)性能，在磁粉探傷操(cao)作過程中(zhong)，可以避免漏檢(jian)，正確地知道探傷工作所需的(de)(de)電流峰值和(he)方(fang)向，并對顯示缺陷的(de)(de)磁場強(qiang)度有所估量。

性能(neng)規格：

本(ben)套(tao)試(shi)片包括 7/50、 15/50、 30/50  各(ge) 2 片共六片(pian)。

試片(pian)D-7/50適用于高靈敏度探傷，規格為( 11-12)D: D-15/50適用于中靈敏度探傷，為( 8-9) D:D-30/50適于用低靈敏度探傷,規格為(5-6)D。

M1型靈敏度(du)試(shi)片 

產(chan)品詳情：

M1型靈敏(min)度試片用于零部件(jian)的(de)(de)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷，在(zai)(zai)檢查(cha)中，對(dui)幾何形狀(zhuang)復雜，不同(tong)材質的(de)(de)工件(jian)，可以(yi)正(zheng)確地選擇(ze)磁(ci)化規范，并(bing)可檢查(cha)探(tan)傷設備，磁(ci)粉(fen)和磁(ci)懸液(ye)的(de)(de)性(xing)能，在(zai)(zai)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷操作過程中，可以(yi)避免(mian)漏檢，正(zheng)確地知道探(tan)傷工作所需的(de)(de)電流峰值和方向，并(bing)對(dui)顯示缺陷的(de)(de)磁(ci)場強度有所估(gu)量(liang)。

性能規格：

每(mei)片上含(han) 7/50（外圈￠ 12）、15/50（中圈￠ 9） 、 30/50（內圈￠ 6） 三(san)種(zhong)靈敏度
每套 2 片

試片外圈(quan)（7/50)u適用于高靈敏度探傷，規格為（ 11-12)D:中圈(15/50 ) u適用于中靈敏度探傷，為( 8-9)D:內圈(30/50) u適用于低靈敏度探傷,規格為(5-6）D.

使用方法(fa)：

選適當靈敏度的(de)試片(pian)，將刻有槽(cao)的(de)一(yi)面用膠帶紙(zhi)(zhi)緊密地貼(tie)在工件上（膠帶紙(zhi)(zhi)貼(tie)于試片(pian)兩(liang)邊緣，不要影響試片(pian)背面的(de)刻槽(cao)部位）。

進行(xing)外(wai)加懸(xuan)場法，對(dui)工件進行(xing)磁(ci)化，并在試片上澆以(yi)磁(ci)懸(xuan)液或噴磁(ci)粉（磁(ci)化規范由(you)低檔(dang)逐提高，以(yi)顯示磁(ci)痕為界，既是磁(ci)化電流）。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的(de)試片，即可(ke)清楚(chu)顯示磁痕。

注意事(shi)項：

1. 試片使用(yong)(yong)前，用(yong)(yong)柔軟紙或紗布輕輕地把試片表(biao)面(mian)的油漬(zi)擦去，在(zai)用(yong)(yong)膠帶紙緊(jin)密(mi)地貼在(zai)工件(jian)上(shang)。

2. 試片用后請涂(tu)防銹油。

3. 試片有(you)褶皺不平或破裂，會影響探(tan)傷靈敏度，不宜繼(ji)續使用(yong)。