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磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型

簡要描述:磁(ci)粉(fen)探傷靈敏度試片(pian)A1、C型(xing)、D型(xing)、M1型(xing)主(zhu)要用于檢驗磁(ci)粉(fen)檢測設備、磁(ci)粉(fen)和(he)磁(ci)懸液的綜合性能(neng),顯示被檢 工(gong)件表面(mian)具有(you)足夠的有(you)效磁(ci)場(chang)強(qiang)度和(he)方(fang)向、有(you)效檢測區(qu)以及磁(ci)化(hua)方(fang)法是否正(zheng)確。

  • 產品(pin)型號:
  • 廠商性(xing)質:生產廠家
  • 更(geng)新時間:2023-06-04
  • 訪  問  量:3657

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域化工,石油,能源,交通,電氣

磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能,顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。

 

A型靈敏度試片

產品詳情(qing)

A型(xing)靈敏度試片用(yong)于零部件的(de)磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang),在檢(jian)查(cha)中(zhong),對幾何形(xing)狀復雜,不同材質的(de)工件,可以(yi)正(zheng)確(que)地選擇(ze)磁(ci)(ci)化規(gui)范,并(bing)可檢(jian)查(cha)探(tan)(tan)傷(shang)設備,磁(ci)(ci)粉(fen)和(he)磁(ci)(ci)懸液的(de)性(xing)能,在磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)操作過程(cheng)中(zhong),可以(yi)避免漏檢(jian),正(zheng)確(que)地知(zhi)道探(tan)(tan)傷(shang)工作所需的(de)電流(liu)峰值和(he)方向,并(bing)對顯示(shi)缺陷(xian)的(de)磁(ci)(ci)場強(qiang)度有所估(gu)量。A型(xing)靈敏試片是磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)工作者(zhe)的(de)調試工具。

特點(dian)如下:

試片用于磁(ci)粉顯示,圖像直(zhi)觀,使用簡(jian)便,對各類(lei)零件(jian)所有方向(xiang)的(de)磁(ci)場,尤其檢查形狀復雜的(de)零件(jian)時,表(biao)現其*的(de)優(you)點。

性能(neng)規格:

本套試片(pian)包括(kuo):7/50、 15/50、 30/5015/100、 30/100、 60/100各 1 片,共六片。

試(shi)片=1(um)適用于高靈敏度探傷,規格為(11-12)D;=2(um)適用于中靈敏度探傷,為(8-9)D;=3(um)適用于低靈敏度探傷,規格為(5-6)D。括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為um(微米),D為工件直徑。

 

 

C型靈(ling)敏度試片(pian) 

產品詳情

C型靈(ling)敏(min)(min)度(du)試(shi)片最先(xian)由日本無損檢測學會提出,以后(hou)為多個國家使用,主(zhu)要用于零部(bu)件的(de)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang),在(zai)(zai)檢查(cha)中,對幾(ji)何形狀復雜,不(bu)同材質的(de)工作,可以正確地選擇(ze)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)規范,并(bing)可檢查(cha)探(tan)(tan)傷(shang)設備,磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)和(he)磁(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液的(de)性(xing)能,在(zai)(zai)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)操(cao)作過程中,可以避免(mian)漏檢,正確地知(zhi)道探(tan)(tan)傷(shang)工作所(suo)需的(de)電流峰值和(he)方向,并(bing)對顯示(shi)缺陷的(de)磁(ci)(ci)(ci)場強度(du)有所(suo)估量(liang)A型靈(ling)敏(min)(min)度(du)試(shi)片是磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)工作者(zhe)常備的(de)調試(shi)工具(ju)。

特點(dian)如(ru)下:

C型標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)片,它分為C1型和C2型,它可以在(zai)任何幾(ji)何形狀復雜(za)的工件(jian)上(shang)(shang)探(tan)傷,尤(you)其(qi)在(zai)焊縫的坡口面上(shang)(shang)及狹小部分,更能顯示它的優點。C型標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)片相(xiang)當于A型試(shi)(shi)(shi)片中2#試(shi)(shi)(shi)片的靈敏度等同(tong),它的磁化規范相(xiang)當于8-10D,并可用作鑒定探(tan)傷設備、磁粉(fen)和磁懸液的性能,在(zai)磁粉(fen)探(tan)傷過程中,可以避免誤判(pan)或漏檢。C型標(biao)(biao)準(zhun)靈敏度試(shi)(shi)(shi)片,是磁粉(fen)探(tan)傷工作者(zhe)常備的調(diao)試(shi)(shi)(shi)工具。

性能(neng)規(gui)格:

本套試片包括:C1: 8/50u  C2:15/50u  共六片,分兩組不同規格的試片組成。

 

D型(xing)靈(ling)敏度試(shi)片 

產品詳情(qing)

D型靈敏度試片(pian)用(yong)于零部件的(de)(de)磁粉探傷,在檢(jian)查中(zhong),對幾何形狀復雜,不同材(cai)質的(de)(de)工件,可以正確地選擇磁化規范(fan),并可檢(jian)查探傷設備,磁粉和(he)磁懸液(ye)的(de)(de)性能,在磁粉探傷操(cao)作過程中(zhong),可以避免漏檢(jian),正確地知道探傷工作所需的(de)(de)電流峰值和(he)方(fang)向,并對顯示缺陷的(de)(de)磁場強(qiang)度有所估量。

性能(neng)規格:

本(ben)套(tao)試(shi)片包括 7/50、 15/50、 30/50  各(ge) 2 片共六片(pian)。

試片(pian)D-7/50適用于高靈敏度探傷,規格為( 11-12)D: D-15/50適用于中靈敏度探傷,為( 8-9) D:D-30/50適于用低靈敏度探傷,規格為(5-6)D。

 

M1型靈敏度(du)試(shi)片 

產(chan)品詳情

M1型靈敏(min)度試片用于零部件(jian)的(de)(de)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷,在(zai)(zai)檢查(cha)中,對(dui)幾何形狀(zhuang)復雜,不同(tong)材質的(de)(de)工件(jian),可以(yi)正(zheng)確地選擇(ze)磁(ci)化規范,并(bing)可檢查(cha)探(tan)傷設備,磁(ci)粉(fen)和磁(ci)懸液(ye)的(de)(de)性(xing)能,在(zai)(zai)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷操作過程中,可以(yi)避免(mian)漏檢,正(zheng)確地知道探(tan)傷工作所需的(de)(de)電流峰值和方向,并(bing)對(dui)顯示缺陷的(de)(de)磁(ci)場強度有所估(gu)量(liang)。

性能規格:

每(mei)片上含(han) 7/50(外圈¢ 12)15/50(中圈¢ 9) 、 30/50(內圈¢ 6) 三(san)種(zhong)靈敏度
每套 2 片

試片外圈(quan)(7/50)u適用于高靈敏度探傷,規格為( 11-12)D:中圈(15/50 ) u適用于中靈敏度探傷,為( 8-9)D:內圈(30/50) u適用于低靈敏度探傷,規格為(5-6)D.



使用方法(fa):

選適當靈敏度的(de)試片(pian),將刻有槽(cao)的(de)一(yi)面用膠帶紙(zhi)(zhi)緊密地貼(tie)在工件上(膠帶紙(zhi)(zhi)貼(tie)于試片(pian)兩(liang)邊緣,不要影響試片(pian)背面的(de)刻槽(cao)部位)。

進行(xing)外(wai)加懸(xuan)場法,對(dui)工件進行(xing)磁(ci)化,并在試片上澆以(yi)磁(ci)懸(xuan)液或噴磁(ci)粉(磁(ci)化規范由(you)低檔(dang)逐提高,以(yi)顯示磁(ci)痕為界,既是磁(ci)化電流)。

上述步驟完畢后,貼在工件表面上的(de)試片,即可(ke)清楚(chu)顯示磁痕。

注意事(shi)項:

1. 試片使用(yong)(yong)前,用(yong)(yong)柔軟紙或紗布輕輕地把試片表(biao)面(mian)的油漬(zi)擦去,在(zai)用(yong)(yong)膠帶紙緊(jin)密(mi)地貼在(zai)工件(jian)上(shang)。

2. 試片用后請涂(tu)防銹油。

3. 試片有(you)褶皺不平或破裂,會影響探(tan)傷靈敏度,不宜繼(ji)續使用(yong)。



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