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SDH橫孔試塊僅在用試塊調整縱波(bo)直探(tan)(tan)頭探(tan)(tan)傷(shang)靈(ling)敏(min)度時才使用。縱波(bo)直探(tan)(tan)頭探(tan)(tan)傷(shang)允許采(cai)用ゅ3，4，ゅ6當(dang)量(liang)平底孔三種靈(ling)敏(min)度。

HS半(ban)圓階梯試(shi)塊(kuai)(HS試(shi)塊(kuai))使用(yong)時，應將(jiang)試(shi)塊(kuai)置于適當的木架上(shang)。 作為支撐物的木架既不能有損于試(shi)塊(kuai)，也不能產生(sheng)任何阻(zu)尼。

SH-1半圓試塊可調整探測(ce)范圍，測(ce)定(ding)儀(yi)器的水平線(xian)性、垂(chui)直線(xian)性和動態范圍，測(ce)定(ding)斜探頭的入(ru)射點、折射角(jiao)及(ji)調整探傷靈(ling)敏度。

7A/7B階(jie)梯(ti)測厚(hou)校準試(shi)塊(kuai)(kuai) 對比參考試(shi)塊(kuai)(kuai) 標(biao)準試(shi)塊(kuai)(kuai) 測厚(hou)階(jie)梯(ti)試(shi)塊(kuai)(kuai) 標(biao)準厚(hou)度塊(kuai)(kuai) 超聲(sheng)波測厚(hou)試(shi)塊(kuai)(kuai)

5A/5B/5階梯超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)厚試塊(kuai)(kuai) 對(dui)比參考(kao)試塊(kuai)(kuai) 標準試塊(kuai)(kuai) 測(ce)(ce)厚階梯試塊(kuai)(kuai) 標準厚度塊(kuai)(kuai) 超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)厚試塊(kuai)(kuai)

4階(jie)梯測厚(hou)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai) 美(mei)國常規試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai) 對比參考試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai) 標準(zhun)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai) 測厚(hou)階(jie)梯試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai) 標準(zhun)厚(hou)度塊(kuai)(kuai) 超(chao)聲波測厚(hou)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)

4A 4B測厚(hou)(hou)階梯試(shi)塊(kuai) 對(dui)比參(can)考試(shi)塊(kuai) 標(biao)準試(shi)塊(kuai) 測厚(hou)(hou)階梯試(shi)塊(kuai) 標(biao)準厚(hou)(hou)度(du)塊(kuai) 超聲波測厚(hou)(hou)試(shi)塊(kuai)

橫波(bo)靈敏度試塊(kuai)依據(ju)標(biao)準(zhun)(zhun)中技術2的要(yao)求(qiu)而設計(ji)，該類試塊(kuai)主要(yao)適(shi)用于標(biao)準(zhun)(zhun)技術2中橫波(bo) 檢測(ce)以(yi)平(ping)底孔(kong)為基準(zhun)(zhun)反(fan)射體，制作縱波(bo)距離-增益-尺寸曲線(xian)(DGS)。試塊(kuai)依據(ju)檢測(ce) 范圍、平(ping)底孔(kong)直徑及所用探頭(tou)角度的不(bu)同共設計(ji)四個系列十(shi)二塊(kuai)試塊(kuai)。