磁粉探傷靈敏度試片有A1、C型(xing)、D型、M1型試片(pian)主要(yao)用于(yu)檢(jian)驗磁粉檢(jian)測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯(xian)示被檢(jian) 工件表(biao)面具有(you)足夠的有(you)效(xiao)磁場強度(du)和方(fang)向、有(you)效(xiao)檢(jian)測區以(yi)及磁化方(fang)法是否(fou)正(zheng)確。

A型靈敏度試片

產品詳情：

A型靈敏度試片用(yong)于(yu)零部件(jian)的(de)(de)磁(ci)粉探(tan)傷(shang)，在(zai)檢(jian)查中(zhong)，對幾(ji)何形狀復(fu)雜，不同材質(zhi)的(de)(de)工件(jian)，可以正(zheng)(zheng)確(que)(que)地選擇(ze)磁(ci)化規(gui)范，并可檢(jian)查探(tan)傷(shang)設備，磁(ci)粉和磁(ci)懸液(ye)的(de)(de)性(xing)能，在(zai)磁(ci)粉探(tan)傷(shang)操作過程(cheng)中(zhong)，可以避免漏檢(jian)，正(zheng)(zheng)確(que)(que)地知道探(tan)傷(shang)工作所(suo)需的(de)(de)電流峰(feng)值和方向，并對顯示缺陷的(de)(de)磁(ci)場強度有所(suo)估量。A型靈敏試(shi)片是磁(ci)粉探(tan)傷工作者的調(diao)試(shi)工具。

特點如(ru)下：

試片用(yong)于磁(ci)粉顯(xian)示，圖(tu)像直(zhi)觀(guan)，使用(yong)簡便，對各類零件所有方向的磁(ci)場，尤其檢查形狀復(fu)雜的零件時，表現其*的優點(dian)。

性能(neng)規格(ge)：

A型靈敏度試片

試片=1（um）適用于高(gao)靈敏度(du)探傷，規格為（11-12）D;=2（um）適用于中靈敏度探傷(shang)，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈(ling)敏度探傷(shang)，規格為(wei)（5-6）D。括號中分子為槽深，分母為試片厚度(du)，單位為um(微米)，D為(wei)工(gong)件直徑。

使用方法：

選適當靈敏度的試(shi)片(pian)，將刻有槽的一(yi)面用膠帶(dai)紙緊密地(di)貼(tie)在(zai)工件上（膠帶(dai)紙貼(tie)于試(shi)片(pian)兩邊緣，不(bu)要(yao)影響試(shi)片(pian)背面的刻槽部位）。

進行外(wai)加懸場法，對工(gong)件進行磁(ci)(ci)化，并(bing)在試片上(shang)澆以(yi)磁(ci)(ci)懸液或噴磁(ci)(ci)粉（磁(ci)(ci)化規范由低檔逐(zhu)提高，以(yi)顯(xian)示磁(ci)(ci)痕為界，既是磁(ci)(ci)化電流）。

上述步(bu)驟完畢后(hou)，貼在工(gong)件表面上的試片，即可清(qing)楚(chu)顯示磁痕。

注意事(shi)項：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把(ba)試片表面(mian)的(de)油漬擦(ca)去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請(qing)涂防銹油。

3. 試片有褶皺不(bu)平或破裂，會影響探傷靈(ling)敏度，不(bu)宜繼續(xu)使用。